本次展會上,尼得科精密檢測科技將展出用于IGBT/SiC的功率半導體檢測設備、用于EV/HEV等驅(qū)動電機的測試臺以及尼得科精密檢測科技的子公司SV Probe開發(fā)制造的晶圓檢測治具“探針卡”等最新解決方案。

本次參展將主要介紹體現(xiàn)公司核心“測量”技術(shù)的半導體探針卡、半導體封裝基板電氣檢測系統(tǒng)“GATS系列”以及功率半導體電氣檢測系統(tǒng)“NATS系列”產(chǎn)品。

基于長期積累的檢測技術(shù),尼得科精密檢測科技將為客戶提供最新的檢測解決方案以及貢獻于未來的新產(chǎn)品和新技術(shù)。

〈參展概要〉

・展 期:2025年2月19日(周三)～2月21日(周五)

・會 場:首爾市 COEX會議中心

・展 位:3樓HallC C600

・官 網(wǎng):https://www.semiconkorea.org/en

〈參展產(chǎn)品〉

・用于高電壓測試的加壓結(jié)構(gòu)探針卡

・用于高溫/高電流測試的探針卡

・2D-MEMS探針卡

・用于IGBT/SiC模塊的絕緣/靜態(tài)特性/動態(tài)特性檢測裝置“NATS-1000/1700系列”

・KGD測試設備“NATS-1300系列”

・用于功率半導體模塊的動態(tài)可靠性測試設備“NATS-8000系列”

・Reference Inverter

・用于EV驅(qū)動電機的測試臺“TDAS系列”

・半導體封裝基板電氣檢測系統(tǒng)“GATS-7000系列”

・AI服務器大型基板電氣檢測系統(tǒng)“GATS-8360”

・AC/DC多功能測試儀“R-700系列”

・超高精度檢測用探針

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